电磁兼容工程师网

标题: ONU产品ESD问题求助 [打印本页]

作者: daxia 时间: 2013-2-25 10:28
标题: ONU产品ESD问题求助
一款ONU产品，带2语音口4网口，测试ESD时EUT配置以下业务：两语音口保持通话，网口ping包。测试结果为：1.若两话机为摘机状态，ESD 接触6KV（7KV也可PASS）,空气8KV均PASS；2.若两电话机为免提状态，水平耦合和接触放电+/-6KV均FAIL，且均为测试一下就fail，FAIL现象为通话中断，但网络无问题，话机重新拨号后正常。EUT所用SLIC芯片为LE9530，不明白话机摘机状态和免提状态测试结果差异会这么大，还请各位大侠大牛指点一二，先谢过了

。

作者: AAQQSS123321 时间: 2013-2-25 10:31
找你们硬件工程师一起看看吧

作者: daxia 时间: 2013-2-25 10:32
该ONU产品为塑胶外壳，接触放电测试点为USB和光模块。

作者: lrbxiao8 时间: 2013-2-25 17:10
楼主把结构图和原理图之类的发来看看呢
这样大家也没法判断啊

作者: AAQQSS123321 时间: 2013-2-27 14:59

该ONU产品为塑胶外壳，接触放电测试点为USB和光模块。
daxia 发表于 2013-2-25 10:32

USb 铁壳和光模块铁壳定义是ground？还是PGND?

欢迎光临电磁兼容工程师网 (http://bbs.emcmark.com/)