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标题: 静电枪工作过程EMC影响分析 [打印本页]

作者: 一千零一    时间: 2014-6-23 11:05
标题: 静电枪工作过程EMC影响分析
在做显示产品静电测试时,实施空气放电测试,静电枪在屏附近充放电时均出现屏闪,但充电完成后,进行静电测试靠近屏直到击穿完成,都不会屏闪。然后在屏附件松开静电枪触发开关,屏又闪了。
静电充放电过程中的幅射很强吗?应该不会比击穿瞬间强吧。
充放电过程中会对电源造成很大的影响吗?静电充电能量不大吧。
就是因为这个现象,所以接触放电都不会过(接触放电时静电枪始终都在屏附近),空气放电触发和松开触发时都要尽量远离屏才可以。这个现象的本质是什么?
作者: 奋进    时间: 2014-6-23 14:08
没看懂,描述不是很清晰??
作者: 451900633    时间: 2014-6-23 15:50
先测试下HCP和VCP,看有没有问题
作者: 一千零一    时间: 2014-6-23 15:53
451900633 发表于 2014-6-23 15:50
先测试下HCP和VCP,看有没有问题

设备不需要HCP和VCP实验,没有进行相关实验,也没有相关的场所。
但静电台有接地铜板,类似HCP,测试是会失效的
作者: xinlike    时间: 2014-6-23 22:41
充电完成?什么意思?

作者: melissa    时间: 2014-6-24 08:14
我们之前是静电枪空气放电时把屏打花,屏幕玻璃厚一点点就没事了。
作者: 一千零一    时间: 2014-6-24 11:38
melissa 发表于 2014-6-24 08:14
我们之前是静电枪空气放电时把屏打花,屏幕玻璃厚一点点就没事了。

这样也可以?
屏幕加厚现在应该没办法实验。
作者: 一千零一    时间: 2014-6-24 11:43
xinlike 发表于 2014-6-23 22:41
充电完成?什么意思?

静电枪有触发开关,进行静电测试的时候先是按下触发开关,这时候静电枪充电,然后靠近EUT,击穿,放电,松开触发开关。
现在在按下触发开关和松开触发开关时(和EUT距离较近,约20cm)出现不良
作者: 电磁兼容工作室    时间: 2014-6-25 14:01
个人认为, 其实任何瞬态干扰现象都是电流或者电压进入PCB板进而影响产品的功能, 同样对于esd来讲,高频的信号进入显示器电路引起屏闪,归根结底还是要找到引起屏闪到底是哪个器件受到了影响。经验以为,屏闪大部分是由于同步信号受到影响把!找到同步信号然后进行滤波,应该可以解决问题

另外, 注意静电放电在产品上电荷的积累, 从你描述的现象来看, 整机应该是个II类设备把?电荷在产品上积累到一定程度, 会出现静电枪无法放电的情况, 您需要先把电荷泄放掉, 在进行测试
作者: 一千零一    时间: 2014-6-25 15:44
电磁兼容工作室 发表于 2014-6-25 14:01
个人认为, 其实任何瞬态干扰现象都是电流或者电压进入PCB板进而影响产品的功能, 同样对于esd来讲,高频的 ...

屏的同步信号没有独立传输:视频信号采用LVDS信号传输,共5对差分对,每 对8 bit数据传输,同步信号和和另外5位色彩RGB信号整合在其中的一路,频率约180M,信号幅值350mv。最后信号进入TFT,由TFT内部处理,TFT本身的静电性能已经满足要求。
静电实验过程中都有对静电枪放电





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