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标题: 云鹊电子---静电放电发生器有哪些参数要注意？ [打印本页]

作者: 云鹊电子 时间: 2011-3-1 09:31
标题: 云鹊电子---静电放电发生器有哪些参数要注意？

首先要注意是做哪种测试。
目前大致有2种：
1、用于电磁兼容测试的静电放电发生器；
2、用于元件ESD耐受能力测试的静电放电发生器。
这2种静电放电发生器在测试目的、方法、原理上差异很大。
国内部分厂家用IEC 61000-4-2的静电枪结构直接用于半导体ESD耐受测试，比较牵强。

作者: 云鹊电子 时间: 2011-3-1 09:35

一、要注意的是放电电压。
1、一般国产静电放电发生器的放电电压范围有2种：0（0.1）~20kV和0（0.1、0.5）~30kV。
2、电压精度：大部分为±5%（标准要求±5%），部分为±3%。一般说高端部分做的标称精度没有啥问题，低端部分比较困难。大部分计量报告只检测2kV~15kV区间，区间外不作测量，所以低端电压精度可信度存在一定问题。好在ESD测试很少用到1kV以下。
3、放电电压的稳定性在标准中没有具体提出要求，一般静电放电发生器的技术指标中也没有说明，然而却很重要！这直接影响到放电的稳定性。

作者: 云鹊电子 时间: 2011-3-1 12:42

二、校准时的放电电流波形：
校准（约束）放电枪的干扰强度主要看放电电流，这个电流是指在特定电阻（2Ω）上产生的放电电流，校准设备在标准有详细规定。对放电电流波形有若干要求：
1、       放电电流前沿0.7(0.6)~1nS，这个数据很重要。从实际情况来说，绝大部分静电放电发生器可以做到这个指标。
2、       放电电流峰值，这个数据也是很重要，直接影响放电强度，要求±10%。从实际情况来说，大部分国产静电放电发生器控制不好这个指标，第一峰超出±10%范围的很常见。所以这个技术指标要重点注意。这里暂且把这个指标作为平均值来考虑，因为很多静电放电发生器的放电稳定性很长，同一把枪，放电稳定性有可能就超出±10%。
3、       放电电流的稳定性，这也是比较重要的地方。绝大部分国产静电放电发生器的放电电流的稳定性比较差，标准要求10次放电里重复6次及以上，取重复的值。很多可信度比较低的报告是取10次里比较好看的那次放电，哪怕另外9次偏差很大。这是普通使用者很难注意到的问题，较为严谨的测试机构才会去做一个判断。

作者: 孔今 时间: 2011-3-1 21:48
"用于元件ESD耐受能力测试的静电放电发生器”在广州赛宝见过，和IEC61000中的静电枪不是一回事，差别很大。

作者: 云鹊电子 时间: 2011-3-19 13:09

三、空气放电是否能保持5秒以上：
随着塑壳电子设备、液晶显示电子产品应用的增加，空气模式的静电放电测试也多了起来。所以越来越多的工程师对空气放电测试的不确定性提出了质疑，现象是：1、在自己的实验室测试10kV可以通过，送到测试机构5kV甚至更低电压也不能通过;2、天气潮湿一点，设置到20kV也未必能对地放电。
工程师所反映的情况确实存在，且还相当普遍。是否测试工程师测试方法不对？不是！究其因实为静电放电放生器性能上的缺陷。到底是啥缺陷？大家都知道空气放电有一个过程：距试品足够远时按下扳机，枪头接通放电电路，随后慢慢靠近试品直至产生放电。这个过程要二到五秒，所以，标准要求放电头能保持放电电压五秒以上。很多放电枪不到两秒钟，电压就可能流失大半，勉强放出个很小的火花，天气潮湿时几乎不能放电。这就使得空气放电的结果差异很大，根本达不到测试目的。
有人采取固定气隙放电的方法，此法可避免放电电压泄漏。但是，为确保有效放电，气隙须很小，在按下扳机时电极及枪内铜杯（实际为容性天线）迅速充电至高压，充电时间远小于1nS，幅度非常强。这样一个巨大的、额外的强烈近场的电场辐射就施加于试品之上，诸如LCD、CPU对之特敏感。由于绝缘材料的限制，放电电流不会很大，这样一个空气ESD测试变成了本不需要的电场辐射测试。以此方法测试，则会对EUT提出很高的要求，带来额外的、不必要的成本开销。
由此可见，静电放电枪在空气放电时是否具有电压保持能力是个很关键的性能指标。所以，没有放电电压保持5秒以上能力的静电放电发生器是不符合标准的。

作者: 云鹊电子 时间: 2011-3-20 16:33

对于半导体测试用的静电放电发生器，由于其对波形要求严格，目前还没有见到符合标准要求的国产产品，欢迎上传计量报告来证明已经有符合要求标准要求的国产货。

作者: 云鹊电子 时间: 2011-3-21 16:25

半导体测试用的静电放电发生器技术难点1：前沿要求光滑无扭曲，更不允许有振荡。这对放电器件要求极高。

作者: 云鹊电子 时间: 2011-3-22 10:04

半导体测试用的静电放电发生器技术难点2：要求波顶振荡幅度不超过10%。

作者: 云鹊电子 时间: 2011-3-23 08:59

半导体测试用的静电放电发生器技术难点3：波形后沿光滑无振荡。

作者: 云鹊电子 时间: 2011-3-24 16:39

对于IC，自动的引脚扫描放电系统也有很高的技术难度。

作者: 云鹊电子 时间: 2011-3-28 16:22
另外，测试中间还要求对Pin脚的电性能进行测试检验。

作者: 云鹊电子 时间: 2011-4-2 15:43
顶

作者: 桃花岛主 时间: 2012-5-24 22:39
最近在搞静电一致性和重复性的事情，回过头来拜读，精华啊精华；
有个问题，接触放电比如保持5秒，否则误差很大，那接触放电了，因为先接触再扣动开关，这么说接触放电一般打出来的电压很准了？

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