电磁兼容工程师网
标题:
偶发静电问题
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作者:
leafcai85
时间:
2011-10-10 16:28
标题:
偶发静电问题
大家好,有一台金属外壳的设备,对面板上的金属部分打静电,接触6KV,偶尔会出现死机现象,接地良好。
请问,这种概率不高的失效现象(有时候要打几百次才会出现),有可能是什么原因?
作者:
孔今
时间:
2011-10-10 19:07
只要是在同一时间段做,可以排除环境因素,说明设备抗静电能力处于个临界状态,如果可以自动恢复,按标准可以算通过,如果需要人为干预,则不能通过。
打静电时对IC的去耦或分布电容也有个充电的作用,打一次充一次电,到某一时刻,电容两端电压增大,超过器件的门限电压,那可能就造成器件误动作。
作者:
rarkii
时间:
2011-10-10 20:38
先说下ESD DEBUG的一般方法:
第一,建议楼主对金属壳或者金属部分的每个区域都做下ESD测试,统计出那些区域最容易受扰或者死机;
第二,进行完上面步骤后,再分析下是那些靠近ESD流向大地路径的关键信号收到影响了,比如中断,片选,时钟等;
第三,前面两步执行之后还没效果,那么就对单板进行ESD敏感点的找寻了,一一的去排除,当然这个最耗费时间了,最后得出最优的解决方案;
至于楼主的死机问题,一般为时钟,晶振,中断,片选信号等所引起,ESD流经的能量路径转化成差模能量导致了门电路的触发跳变,随机性的死机问题应该是ESD电荷的积累问题,造成了更加巨大的ESD电荷或者能量平衡的破坏,而这些能量直接就触发了门电路。
ESD标准的制订依据:
企业依据产品的质量要求特点而去制订了更具产品特点的ESD标准,电压高低和放电次数都不一样,判断标准也不一样,金融产品和铁路产品,汽车产品要求比一般都高,空气放电到15KV到25KV,而民用的电脑只是要求在8到10KV,民用产品重启,丢数据是可以接受的,而金融类产品来说那是万万不能的。
作者:
疯狂701六子
时间:
2011-10-10 21:07
针对ESD部分,之前见到过对USB接触的时候,打角落和USB的正中间,有时现象很不一样,对于电脑,听说过ESD是根据现象来判断问题的位置,比如花屏、蓝屏、死机,花屏显现一般去PCH的POWER上找对策,蓝屏则是HDD和EC,死机则是DDR方面,至于其余的声音什么的,则要针对相应的地方分析,这个只是大方向,当然可能不是很准确!
作者:
leafcai85
时间:
2011-10-12 09:29
关于静电判据的问题:
如孔今版主所说的,如果可以自动恢复,按标准可以算通过,如果需要人为干预,则不能通过。
曾经在某产品认证时,静电测试出现小概率重启现象。测试机构有个人说只要静电测试完毕机器在正常运行就算通过,而测试过程的重启是可以接受的。而里面另一个人说只要重启,都是不能接受的。
这点大家是怎么理解的?
作者:
孔今
时间:
2011-10-12 21:16
回复
5#
leafcai85
这个自动恢复,主要是从业务方面来说的,如果业务能正常恢复,就过,业务不能正常恢复,就算挂。
比如GPS定位,静电打了后重启又能自动定位,那就是通过,如果静电打了后自动重启却不能定位了,那就不通过,这时你人为干预后即使正常了,也不算通过。
作者:
NJNUEMC
时间:
2011-10-14 17:33
静电放电电荷具有一定的积累,接地虽然可以将静电泄放掉一部分,但是如果接地不充分的还是无法让静电完全通过检测,我们实验室做整改遇到此类问题比较多。
作者:
孔今
时间:
2011-10-14 20:43
对于金属接地设备,如果接地不良,那么静电可能会通过机壳与板内GND的分布电容流过单板,此时如果单板GND有分割等阻抗高,便会在地上产生一个电位,这个与信号输入电位叠加,可能造成器件逻辑错误,另外,这个电位也是个共模干扰的源头,造成辐射问题。
作者:
taybi
时间:
2011-12-11 10:52
我相信楼主的问题肯定有必然的原因,很多高人已经说过了,杂散电容会存在充电问题、ESD本身也存在累计效应,建议加大应力激发故障。
作者:
allenhua
时间:
2011-12-11 13:00
我相信楼主的问题肯定有必然的原因,很多高人已经说过了,杂散电容会存在充电问题、ESD本身也存在累计效应,建议加大应力激发故障。
=====其实,你也是高人。你的观点内容与信息折射你的经验与理论。
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