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标题:
求解一个关于Common mode choke的问题
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作者:
阿飞小白
时间:
2012-6-10 09:40
标题:
求解一个关于Common mode choke的问题
最近遇到一个问题,一个Adaptor,传导测试,一开始,over3dB,但是热机5分钟左右之后,margin很足,这是什么原因呢?分析是不是电源用的Common Mode Choke 阻抗随温度的变化?求解
作者:
lyzhuhongqiang
时间:
2012-6-10 10:45
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1#
阿飞小白
我认为不是共模电感的问题,其实CE测试受周围环境的影响很大,像周围的网线等。
作者:
楚狂人
时间:
2012-6-10 10:47
很多器件的特性都随着温度变化而发生变化; 这个有可能是其他部件的特性发生变化而导致的。
作者:
阿飞小白
时间:
2012-6-10 14:22
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4#
化二为一
请问,就您遇到的情况来看,共模电感会出现温度升高阻抗变化吗?是否有类似的函数曲线图呢?供小弟学习下?
作者:
桃花岛主
时间:
2012-6-10 14:30
共模电感温度升高阻抗会有变化,因为磁芯和温度有很大关系,一般温度升高,磁导率会下降,阻抗当然将下降;
居里温度这个概念你清楚不,磁芯温度超过居里温度,磁导率将消失。
作者:
阿飞小白
时间:
2012-6-10 14:58
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6#
桃花岛主
这样。小弟有些明白了。谢岛主。
作者:
阿飞小白
时间:
2012-6-10 15:08
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3#
楚狂人
像我这样的情况,一般要怀疑哪些元器件呢?
作者:
火星人
时间:
2012-6-11 10:22
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8#
阿飞小白
看下你的电容是不是靠在很热的器件上了,一般情况电容的容量受温升影响较大,影响滤波效果。
作者:
gx542413760
时间:
2012-6-11 11:10
呵呵,我3个月前遇到这个案子的,情况和你一模一样的,那时是冬天还比较明显温差,改善方案
1.可以再X电容上面加磁珠(在插脚上各套一个)
2.改变BUFF电容,就是整流桥出来的那个大电容
这个电容很关键,好像当时发现有个厂家的这个电容ESR太大,就换了一个好的,改善很明显,还有就是调整 这个电容的容值。
作者:
courage
时间:
2012-6-11 15:30
说以一般要求开机稳定后进行EMC测试,测试仪器也是这样,先开机等稳定后测试。
作者:
gx542413760
时间:
2012-6-11 16:53
ESL ,不是ESR笔误了
作者:
will
时间:
2012-6-11 19:40
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11#
gx542413760
这位老兄能讲讲理论依据或者分析吗,新手上路,请见谅啊
作者:
阿飞小白
时间:
2012-6-11 21:28
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10#
火星人
好意见,明天再次查看一下。
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