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标题:
RF测试FAIL,求分析
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作者:
413312
时间:
2012-7-3 16:19
标题:
RF测试FAIL,求分析
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作者:
楚狂人
时间:
2012-7-3 16:25
谐波超标 注意放大器是否饱和 另外调下滤波器
作者:
413312
时间:
2012-7-3 16:27
传导杂散测试结果很好,辐射杂散测试结果高频部分如上图所示,主要是2.4G、4.8G超标
作者:
413312
时间:
2012-7-3 16:28
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2#
楚狂人
问了一下实验室他们测试时没有加滤波器,你所讲的是调板上部分还是测试的设备?
作者:
manenru
时间:
2012-7-3 17:03
调整RF输出滤波结构或参数
作者:
桃花岛主
时间:
2012-7-3 23:20
谐波这么多还这么高,你的有功放没,有功放的话重点要关注下功放,我们杂散的问题很多从功放解决了。
作者:
楚狂人
时间:
2012-7-4 07:50
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4#
413312
都说的是你产品上的东西。
作者:
slxyc
时间:
2012-7-4 09:07
传导杂散好可能和辐射没多大关系,因为辐射和频率、环路都有关,传导幅值小,频率和环路大,辐射照样大,建议从功放或射频滤波着手。
作者:
火星人
时间:
2012-7-4 09:47
建议从功放和滤波着手,谐波太大了。
作者:
413312
时间:
2012-7-4 10:00
谢谢各位,PA是集成的,没办法改,看来只能从滤波上改了
作者:
leafcai85
时间:
2012-7-4 13:14
插问一下,1G以下的RSE和RE是否有可对比性,如果RE测试临界(class B),RSE是否也很危险?
作者:
leafcai85
时间:
2012-7-4 13:14
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11#
leafcai85
我指的是rx或standby的模式下。
作者:
courage
时间:
2012-7-5 09:04
11#楼兄弟,RE和RSE完全是不一样的测试方法,没啥可比性吧,当然,有的实验室简化测试,RSE和RE貌似测试方法相同,但是这也是要校准的。
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