先进的EMI诊断操作---近场探测方法

karenpeng · 发表于 2013-12-11 14:39:23

Near Field Probe (Loop Type fro area noise diagnosis):
使用環狀近場天線探測待測物高雜訊的區域:
電源區探測: Power Supply Area: 觀察環狀近場天線探測的結果，並在broad band 與narrow band 幅射強度較高的區域作記錄與記號。

PCB探測: 觀察環狀近場天線探測的結果，並在narrow band 幅射強度較高的區域作記錄與記號。

Near Field Probe (Point type for signal pin or trace noise diagnosis)
使用點針狀近場天線探測環狀近場探測高雜訊的區域:
電源區探測: Power Supply Area: 觀察環狀近場天線探測的結果，並在broad band 與narrow band 幅射強度較高的信號線或IC Pin腳作記錄與記號。

PCB探測: 觀察點針狀近場天線探測的結果，並在narrow band 幅射強度較高的信號線或IC Pin腳作記錄與記號。