RS 20---2700MHz 10V/M 影响?
三套主机同时上机架 测试C1:6U C2:1U+3U6U的设备
1U的设备
3U的设备
这样测试我是想节省时间 不用 分开测6U和1U+2U
试验说法(影响场强从而影响测试结果)? 要求分开测试
要说影响肯定和分开测试有所差别,要看你对设备性能了解的程度了,如果设备本身对RS不敏感,基本不出现问题,可以一起测试,如果没有把握,最好分开测试,个人觉得影响不大,只要设备都在均匀场范围内就可以。一个6U加1U和2U也没有多大,和单独测试一个6U差别没那么大。 恩 首先这个不是RE如同是RE同时测试可能影响很大 如果出了问题不知道从哪个设备出来到
RS 我有两块表监视 C1、C2即使有一个有问题 另一个OK。再单独测试有问题的
预测试 我已经单独测试过
可能分开测试时间多一陪 费用会多些
我只想知道从技术角度讲 这样对实验数据的影响 一般来说,静区是个均匀场,几个设备放一起,被测设备某些面的场被其他设备反射、吸收,多多少少会有差别,也就是说,待测EUT表面的场可能不均匀或变小。
页:
[1]