RS 20---2700MHz 10V/M 影响？

三套主机同时上机架 测试  C1:6U   C2：1U+3U

6U的设备

1U的设备

3U的设备


这样测试  我是想节省时间 不用 分开测  6U  和1U+2U

试验说法（影响场强从而影响测试结果）？ 要求分开测试

要说影响肯定和分开测试有所差别，要看你对设备性能了解的程度了，如果设备本身对RS不敏感，基本不出现问题，可以一起测试，如果没有把握，最好分开测试，个人觉得影响不大，只要设备都在均匀场范围内就可以。一个6U加1U和2U也没有多大，和单独测试一个6U差别没那么大。

恩 首先这个不是RE  如同是RE同时测试可能影响很大 如果出了问题不知道从哪个设备出来到

RS 我有两块表监视 C1、C2  即使有一个有问题 另一个OK。再单独测试有问题的

预测试 我已经单独测试过

可能分开测试时间多一陪 费用会多些

我只想知道从技术角度讲 这样对实验数据的影响

一般来说，静区是个均匀场，几个设备放一起，被测设备某些面的场被其他设备反射、吸收，多多少少会有差别，也就是说，待测EUT表面的场可能不均匀或变小。