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电阻、 电容不同封装在静电整改中的问题。

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火星人 发表于 2013-5-21 09:33:57 | 显示全部楼层
这个和电容的耐压也有关系吧?和走线之间的距离也有关系吧?
mac_du 发表于 2013-5-21 12:59:52 | 显示全部楼层
mac_du 发表于 2013-5-16 12:06
回复 8# walterP

   

test!
mic29 发表于 2013-11-25 17:34:32 | 显示全部楼层
我水準太低,mac 的第一次回覆我幾乎都看不懂,第二次回覆還看得懂一些,所以只好提另一個可能性與大家討論

當ESD放電時伴隨的電磁波由空間耦合進入復位線而引起復位時,小尺寸的MLCC濾波效果反而不如大尺寸同容質的,看來是有些奇怪
但是如果不是電磁波耦合,而是ESD直接由GND經MLCC進入復位線引起復位時,這樣就可以合理地解釋LZ的問題

舉例,假設某0603的諧振點是3MHZ,而0402是在5MHZ
當IC的敏感頻率是5MHZ左右時,若以0402去耦,則會有較多的ESD能量由GND進入復位線,導致發生復位
若是以0603去耦,則因阻抗較高,進入復位線的ESD能量較少,測試就PASS

理論上只要移除此電容後再測一次,即知ESD路徑是由復位線到地,還是相反
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