热插拔USB，烧坏USB接口ESD保护器件

owen11 · 发表于 2013-6-28 11:29:07

1. PCB布局问题影响
2. TVS器件问题

manufatty · 发表于 2013-6-30 22:18:05

lsp25071050 发表于 2013-6-28 09:07
是在生产线，整机测试环节出现的。我们公司是NXP总代，器件没问题。

难道贵公司是ZY？

阿飞小白 · 发表于 2013-6-30 22:28:57

这概率也太小了吧。

lsp25071050 · 发表于 2013-7-1 12:39:06

manufatty 发表于 2013-6-30 22:18
难道贵公司是ZY？

lsp25071050 · 发表于 2013-7-1 12:40:27

阿飞小白发表于 2013-6-30 22:28
这概率也太小了吧。

上量后，概率也就不了啦

red127 · 发表于 2013-7-1 19:27:33

有没有做过信号线的ESD测试，热拔插会产生浪涌电流，器件坏掉应该是过电流造成的吧

jxhsl · 发表于 2013-7-10 20:52:50

lsp25071050 发表于 2013-7-1 12:40
上量后，概率也就不了啦

这概率我看也是挺大的千分之五。

如是在测试环节发现，那可能跟测试工装有关了，毕竟这器件只是防静电的，功率比较小，如测试工装处引入了比较大能量的噪声，是可能损坏ESD 器件的。

另外这是12Mhz还是高速呀，看还串了33欧的电阻，请问下你们这颗器件的价格多少，不便宜吧。

walterP · 发表于 2013-7-19 20:54:45

重复对同一块接口进行插拔，看看会不会坏掉，若是可以复现，则去掉tvs再试试？不过这可是个体力活

jxhsl · 发表于 2013-7-19 21:18:55

一直插拨，不如拿静电枪来打，看这TVS的扛静电怎么样。

rarkii · 发表于 2013-7-24 14:09:23

如果是千分之五的芯片出问题，那么就重点考虑供应商不良率问题。
如果是每台机器打1000枪，都会损坏，那就是群体效应，考虑下怎么去防护。
热插拔损坏一般不像静电枪发生的模拟，应该像摩擦起电，发生的模型与传播参数是不一样的，也有点脉冲群单个波形，这样，串联电阻，并联电容是一个好的办法。