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安规和EMC电磁兼容，“ 技术研发交流群 ”

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芯片的ESD实验怎么做

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esd712 发表于 2013-10-31 16:06:13 | 显示全部楼层 |阅读模式

1。电源、地测试：
把所有的PAD分别对每组电源、地ZAP，脉冲包括正、负，不同标准有不同要求，间隔100ms-1s，MIL和GJB要求3次，其他标准要求一次
2。IO-IO测试：
每一个IO对其他所有的IO（短接在一起）ZAP，脉冲包括正、负，间隔100ms-1s，MIL和GJB要求3次，其他标准要求一次

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