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请教EMI滤波器的差模插入损耗测试方法

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lsp25071050 发表于 2012-11-13 17:03:57 | 显示全部楼层 |阅读模式 打印 上一主题 下一主题
共模扼流圈的差模插入损耗测试方法有如下两种:
差模插入损耗测试方法.jpg 图中RS、RL分别是网分的测试接口的端接电阻。看到大部分资料说滤波器的差模插入损耗测试方法是按方法二测试,但也看到有按方法一测试的。请教:1.这两种方法哪一种更合理?
2.方法二,为什么要在另一边对地接50欧电阻?

精彩评论9

永恒的瞬间 发表于 2012-11-14 08:58:21 | 显示全部楼层
我们测试是用的方法二,加50欧负载,记得滤波器的插入损耗是在50欧阻抗下测试的,是不是这个原因。
 楼主| lsp25071050 发表于 2012-11-14 21:57:56 | 显示全部楼层
看到很多文献都是采用方法二测的差模损耗,但对不用的端口50欧接地不是很理解。仅仅是为了50欧系统匹配?还是?GB/T 7434也有说到这个50欧系统只是统一滤波器的测试方法,好让各厂家数据有可对比性。
但个人认为在滤波器实际应用中,如开关电源,滤波器的差模测试电路更该为测试方法一的电路。。。。
火星人 发表于 2012-11-15 09:03:33 | 显示全部楼层
第一种测试方法有明显的缺陷。可以看到有一个绕组被短路了,这个短路的绕组会产生反向的感应电动势,在频率较低时,使得另外一个绕组也呈现低阻抗形态,当频率超过磁芯材料的响应频率时就只能测试到线圈的插损。
总的来看,在低频率时测试的结果偏离实际较多,高频时比较接近。 另外,记得正规厂商的滤波器插损测试时好像源阻抗用的是150欧姆。
桃花岛主 发表于 2012-11-15 22:58:30 | 显示全部楼层
回复 5# 火星人

第二种有没有缺陷?
有的滤波器厂家他会提供几种阻抗的测试结果,这样可能参考意义更强些吧,不过,也不能抱啥希望了。
火星人 发表于 2012-11-16 09:06:32 | 显示全部楼层
第二种方法比较接近实际,是正确的测试方法。
把滤波器等效成一个“变压器”,信号输入端为原边,接两个50欧姆电阻那边为副边,副边阻抗为100欧姆。这个模拟了LISN的差模阻抗。 实际上这样只测试了单边的插损,所以需要增加6dB才是两边一起的损耗,但是由于LISN上只取了50欧姆电阻上的电压,所以又需要减去6dB。最后相互抵消,单边测出来的插损等于实际的损耗。
桃花岛主 发表于 2012-11-16 22:21:38 | 显示全部楼层
火星人做滤波器的吗,这么清楚?
火星人 发表于 2012-11-19 11:22:38 | 显示全部楼层
呵呵,我做EMC设计整改。 设计滤波器是做EMC的必修课,了解一些必要的知识才能知其然,而知其所以然。
桃花岛主 发表于 2012-11-19 21:58:24 | 显示全部楼层
回复 9# 火星人

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