请教电缆进出机箱用穿心阵列导致CE变差的本质原因
如题，为遏制辐射，所有电缆进出屏蔽机箱（机箱接地），都接穿心后引出，电源正负之CE测试会变差很多。我左思右想，由于电源及控制线等均从机箱接穿心引出，虽然电源正负极一般都有共模电感遏制传导，但是控制线等其他线缆并没有遏制低频传导措施，线缆都是通过穿心同时穿过机箱，所以穿心共地，所以任何一控制线与电源线之间，其实都是通过两个穿心串联的，因此控制线的干扰电流会通过两个穿心电容流到电源导致CE变差。如上，我分析的对吗？请指教 还有更有可能的原因是，由于机箱直接放置于参考接地平板，直接接地，那么与LISN共地，线缆的干扰电流通过穿心到地再流过50欧姆电阻，导致CE变差（这个电流此时大概算是控制线与电源线之间的差模干扰电流吧，呵呵） 我们这次也遇到了类似的情况，辐射骚扰超标，主要是DC5V/DC5V隔离电源模块引起的，它的隔离地GND_ISO的干扰 ...
化二为一 发表于 2012-11-12 14:33 http://bbs.emcbest.com/images/common/back.gif
化二兄，你看错了啊，我说的是传导啊 问题均差不多。你的是传导，我的是辐射。将是通过电容导致机壳上
化二为一 发表于 2012-11-12 15:12 http://bbs.emcbest.com/images/common/back.gif
我用穿心，还少了引线的感抗挡一下了，呵呵 问题均差不多。你的是传导，我的是辐射。将是通过电容导致机壳上
化二为一 发表于 2012-11-12 15:12 http://bbs.emcbest.com/images/common/back.gif
所以桃花岛主当年转载一个电源进出用穿心电容导致传导超标的文章，是有道理的，需要细细回味啊 是啊。接地的问题学问不小
化二为一 发表于 2012-11-12 15:29 http://bbs.emcbest.com/images/common/back.gif
所以对地接穿心导致CE变差，肯定是有原因的（当然这样辐射会很好） 就是电容，将干扰导到机壳或PE上了
化二为一 发表于 2012-11-12 15:54 http://bbs.emcbest.com/images/common/back.gif
那么靠近EUT端电源线对机壳（机壳接地）接Y电容（或者穿心），干扰通过电容倒到机壳（地），通过LISN的共用地线流到50欧姆电阻，岂不是传导永远变差？这么分析对于机壳（金属壳）又外壳接地的产品，岂不是EUT内干扰源引出线不能先接Y电容了？必须先接电感挡一下?就是电源滤波器靠近EUT端不能是Y电容了？那么EUT是感性负载，需要Y电容阻抗失配怎么办？ 回复 11# lfy21cn
你说错了，正确的设计是让干扰源产生的共模干扰通过Y电容从PE返回到源头，也就是说旁路回源头，避免通过PE进入LISN返回源头，而不是通过Y电容旁路到PE流进LISN，你理解有误。 理论的确是这么讲的，可与实际情况有冲突。最近正在思考是怎么回事
化二为一 发表于 2012-11-13 08:36 http://bbs.emcbest.com/images/common/back.gif
是啊，理论上Y电容越大，滤除共模干扰信号越好，事实上，你线缆接穿心对地，搞不好就导致CE变差很多，这是我实在测试的结果，线缆串个电感再接穿心出机箱，就没问题了，所以只能是干扰电流顺着穿心到地再到LISN了，而且穿心电容越大，CE越差。Y电容即使用CBB什么的，原理也是一样的 回复lfy21cn
你说错了，正确的设计是让干扰源产生的共模干扰通过Y电容从PE返回到源头，也就是说旁路回 ...
孔今 发表于 2012-11-12 22:49 http://bbs.emcbest.com/images/common/back.gif
理论上是通过Y电容返回源头，使线缆上共模电流变小，可您看过岛主的那篇“传导骚扰测试去掉地线结果很好，为什么？”这个文章没，他是这么说的，“今天专门花了点时间分析了一下，有地线主要影响的是共模，且对金属外壳的产品影响最显著；
如下图，最上的图1为接地，比如传导骚扰在10M左右，因为地线电感阻抗大于Y电容阻抗，因此EUT产生的干扰源大部分共模电流通过Y电容回到源头，小部分通过地线进入LISN从而导致共模干扰，”他也是这么说的，通过Y电容到地线再到LISN，而且如果是用穿心做Y电容，机箱是很大的金属机箱，直接放置于参考接地平板，地线阻抗是很小很小，这种情况下，地线电感阻抗远小于Y电容阻抗，照岛主这么说，不就是大部分通过地线进入LISN了？？？
http://bbs.emcbest.com/viewthread.php?tid=4255&extra=&page=1，岛主这篇讨论的链接
