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关于ESD测试中Reset现象的解析思路

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 楼主| 阿飞小白 发表于 2012-11-12 21:33:33 | 显示全部楼层
回复 9# 化二为一


   470的没有试过,但是1000pf的倒是试过,效果也是不咋的。谢谢化二,明天再实验下,继续努力
 楼主| 阿飞小白 发表于 2012-11-12 21:33:52 | 显示全部楼层
回复 11# kenji


   同意正在思考。呵呵
 楼主| 阿飞小白 发表于 2012-11-12 21:51:46 | 显示全部楼层
回复 10# sarenbarci


   加油啊!努力!
孔今 发表于 2012-11-12 22:33:37 | 显示全部楼层
回复 1# 阿飞小白

鼓励一下,楼主有这种精神,成长不会慢;首先看接地点,尽量和放电点在同一个面板,也就是说不经过机箱缝隙;其次,看放电点与机箱搭接,也就是说泄,比如连机器与机箱搭接;再次,看放电点附近防护或布线环路,比如I/O的防护或布线;最后,直接在敏感的IC线加0.1uF电容或串电阻。
 楼主| 阿飞小白 发表于 2012-11-12 22:47:23 | 显示全部楼层
回复 16# 孔今
无标题.jpg
 楼主| 阿飞小白 发表于 2012-11-12 22:51:30 | 显示全部楼层
回复 16# 孔今


   上图是大概的机构,今天发现直接在HeatSink上放电是OK的,正常测试是在其中一个I/O放电的。(HeatSink是通过螺丝和主板以及主板下面的Shielding接触的),猜想是否是HeatSink上行成了环路造成辐射耦合?因为去除HeatSink时测试也是OK的,下图是HeatSink的侧视图: 无标题.jpg
kenji 发表于 2012-11-13 18:57:40 | 显示全部楼层
加一个弹片可以过?LZ是打静电在什么地方,貌似是接口部分
这么看起来应该是泄放路径的问题了
 楼主| 阿飞小白 发表于 2012-11-13 22:07:12 | 显示全部楼层
回复 19# kenji


   对呀,现在主要方向就是找一条好的泄放路径。弹片是连接散热器和I/O的,今天做实验,改造端口附近的地,有一些效果,正在努力。呵呵
孔今 发表于 2012-11-13 23:02:49 | 显示全部楼层
恭喜,继续加油。
 楼主| 阿飞小白 发表于 2012-11-14 20:16:06 | 显示全部楼层
回复 21# 孔今


   想请教版主,请问以前是否遇到过和我这产品一样的散热器,像这样内部是管状的是否有可能会形成电磁场,因为我对比片式的散热器,ESD实力值竟然会提高。
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